項目名稱

Leeb230

測頭類型

F1

測量原理

磁感應

測量范圍

0 ~ 1250um

分辨率

0.1um

示值誤差

一點校準

±（3%H+1）um

二點校準

±[（1~3）%H+1]um

測試條件

zui小曲率半徑

凸1.5mm  凹9mm

zui小面積直徑

φ7mm

基本臨界厚度

0.5mm

工作環境

溫度

0 ~ 40℃

濕度

20% ~ 90%

電源

AAA堿性電池2節

電壓

3V

工作時間

100小時

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

350g

外殼材質

金屬外殼

標準配置

主機、標準試片、基體、F1探頭、堿性電池

可選配件

標準試片、探頭

PC通訊

有

探頭

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

測量原理

磁性

渦流

測量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測量精度μm

一點校準

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

H+1)

二點校準

±（1～3％H+0.7）

H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

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低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

zui小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

僅為平面

zui小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

無限制

覆蓋層基體

有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）

非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）

覆蓋層厚度不超過100μm

覆蓋層厚度超過100μm

覆蓋層厚度不超過100μm

覆蓋層厚度超過100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測面積直徑大于30mm

F400型測頭0～400μm 
F1型測頭
0～1250μm

F1型測頭
0～1250μm 
F10型測頭
0～10μm

F400型測頭0～400μm 
F1型測頭
0～1250μm

F1型測頭
0～1250μm 
F10型測頭
0～10μm

被測面積直徑小于30mm

F400型測頭0～400μm

F400型測頭0～400μm 
F1型測頭
0～1250μm

F400型測頭0～400μm

F400型測頭0～400μm 
F1型測頭
0～1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測面積直徑大于10mm

N1型測頭0～1250μm
N400測頭0～400μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm

被測面積直徑大于10mm

N400測頭0～400μm

N400測頭0～40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測面積直徑大于7mm

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CN02型測頭10～200μm